當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來(lái)，在熒光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來(lái)判斷缺陷位置和大小，這就是超聲波探傷。下面給大家介紹一些超聲波探傷檢測(cè)設(shè)備、器件和材料名詞解析。
超聲檢測(cè)系統(tǒng) ultrasonic testing system
由超聲檢測(cè)儀器、探頭和電纜組成的系統(tǒng)。
超聲探傷儀 ultrasonic flaw detector
利用超聲波反射或透射原理，以檢查工件缺陷的儀器。其主要組成部分有同步電路、發(fā)射電路、接收電路、掃描電路、顯示電路、電源電路和探頭等。按顯示方式不同，可分為A型、B型，C型顯示等。
超聲測(cè)厚儀 ultrasonic thickness gauge
根據(jù)超聲波在材料或被檢件中的傳播時(shí)間或產(chǎn)生共振的原理設(shè)計(jì)的、用于測(cè)量材料或被檢件厚度的儀器。
超聲顯微鏡 ultrasonic microscope
利用超聲輻射工作的一種特殊的顯微鏡。
A型顯示 A—scope A—scan
以水平基線(x軸)表示距離或時(shí)間，用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)(Y軸)表示輻度的一種信息顯示方法。
B型顯示 B—scope B—scan
一種能夠顯示被檢件的橫截面圖像，指示反射體的大致尺寸及其相對(duì)位置的超聲信息顯示方法。
C型顯示 C－scope C—scan
一種能夠顯示被檢件縱剖面圖像的超聲信息顯示方法。
D型顯示 D—scope D—scan
對(duì)被檢件體積內(nèi)的反射體作立體的圖形顯示。
MA型顯示 MA—scope MA—scan
在探頭掃查過(guò)程中，將所得到的A型顯示圖形連續(xù)疊加的顯示。
發(fā)射脈沖 transmitted pulse
為了產(chǎn)生超聲波而加到換能器上的電脈沖。
時(shí)基線 time base
A型顯示熒光屏中表示時(shí)間或距離的水平掃描線。同義詞：掃描線時(shí)間軸。
掃描sweep
電子束橫過(guò)探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復(fù)移動(dòng)。
掃描速度 sweep speed
熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值。
掃描范圍 sweep range
熒光屏?xí)r基線上能顯示的最大聲程。同義詞：時(shí)基范圍
延時(shí)掃描 delayed sweep
在A型或B型顯示中，使時(shí)基線的起始部分不顯示出來(lái)的掃描方法。
界面觸發(fā) interface trigger
以界面信號(hào)作為起始點(diǎn)，將該點(diǎn)作為其他時(shí)序系統(tǒng)(例如閘門(mén)位置)的參照基準(zhǔn)。
時(shí)基線展寬 expanded time-base sweep
時(shí)基線光點(diǎn)掃描速度的增加，能將被檢件厚度或長(zhǎng)度范圍內(nèi)選定區(qū)域的回波更詳細(xì)地在超聲探傷儀熒光屏上顯示出來(lái)。同義詞：標(biāo)尺展寬 scale expansion
水平線性 horizontal linearity; time or distance linearity
超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)(通過(guò)校正的時(shí)間發(fā)生器或來(lái)自己知厚度平板的多次回波)成正比關(guān)系的程度。同義詞：距離線性;時(shí)基線性
垂直線性 vertical linearity
超聲探傷儀熒光屏上顯示的信號(hào)幅度與輸入接收器的信號(hào)幅度成正比關(guān)系的程度。同義詞：幅度線性 amplitude linearly
水平極限 horizontal limit
熒光屏上能夠顯示的最大水平偏轉(zhuǎn)距離。
垂直極限 vertical limit
熒光屏上能夠顯示的反射脈沖的最大幅值。
動(dòng)態(tài)范圍dynamic range
在增益調(diào)節(jié)不變時(shí)，超聲探傷儀熒光屏上能分辨的最大與最小反射面積波高之比。通常以分貝表示。
脈沖重復(fù)頻率 pulse repetition frequency
為了產(chǎn)生超聲波，每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵(lì)探頭晶片的脈沖次數(shù)。同義詞：脈沖重復(fù)率 pulse repetition rate
檢測(cè)頻率 inspection frequency；test frequency
超聲檢測(cè)時(shí)所使用的超聲波頻率。通常為0．4～15MHz。同義詞；探傷頻率
回波頻率echo frequency
回波在時(shí)間軸上進(jìn)行擴(kuò)展觀察所得到的峰值間隔時(shí)間的倒數(shù)。
靈敏度 sensitivity
在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的最小超聲信號(hào)的一種量度。
靈敏度余量 surplus sensitivity
超聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測(cè)靈敏度與最大探測(cè)靈敏度之間的差值。
穿透深度 penetration
超聲探傷時(shí)，在被檢件中能夠測(cè)出回波信號(hào)的最大深度。
盲區(qū) dead zone
在一定探傷靈敏度下，從探測(cè)面到最近可探缺陷在被檢件中的深度。盲區(qū)由探頭、超聲探傷儀及被檢件的特性確定。
分辨力 resolution
超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個(gè)相鄰缺陷的能力。
縱向分辨率longitudinal resolution
沿聲束傳播方向的分辨力。
橫向分辨力 transverse resolution
在距探頭橫向的一定距離上，垂直于聲束方向的分辨力。
脈沖調(diào)諧 ：pulse tuning
在某些超聲探傷儀上采用的一種控制方法，即通過(guò)調(diào)整發(fā)射脈沖的頻譜以使探頭和電纜對(duì)發(fā)射器具有最佳的響應(yīng)。
飽和 saturation
輸入信號(hào)幅度增大而熒光屏上回波信號(hào)幅度不增大的一種現(xiàn)象。
觸發(fā)／報(bào)警狀態(tài) trigger／alarm condition
超聲儀器發(fā)現(xiàn)被檢件中有超標(biāo)檢出信號(hào)時(shí)發(fā)出指示的狀態(tài)。
觸發(fā)／報(bào)警標(biāo)準(zhǔn) trigger／alarm level
超聲儀器用以區(qū)分被檢件為合格或不合格的信號(hào)幅度差的基準(zhǔn)，
視頻顯示video presentation
探頭接收到的超聲高頻信號(hào)，經(jīng)檢波放大后形成探傷圖形的顯示方法。同義詞，檢波顯示
射頻顯示 radio frequency(r—f)display
探頭接收到的超聲高頻信號(hào)，被放大后直接進(jìn)行顯示的方法。同義詞：不檢波顯示
時(shí)標(biāo) markers
用電子方法產(chǎn)生的一系列脈沖或其他方式使熒光屏?xí)r基線上依次出現(xiàn)的標(biāo)志信號(hào)，用于距離或時(shí)間的測(cè)定。
距離刻度 distance marker；time marker
為便于直接指示缺陷位于被檢件內(nèi)的深度、水平距離、聲程等而加在探傷儀熒光屏?xí)r基線上的等分刻度。
抑制 reject suppression
在超聲探傷儀中，為了減少或消除低幅度信號(hào)(電或材料的噪聲)，以突出較大信號(hào)的一種控制方法。
閘門(mén) gate
為監(jiān)控探傷信號(hào)或作進(jìn)一步處理而選定一段時(shí)間范圍的電子學(xué)方法。
衰減器 attenuator
使信號(hào)電壓(聲壓)定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。
準(zhǔn)直器 collimator
控制超聲束的尺寸及方向的裝置。
信噪比 signal—to—noise ratio
超聲信號(hào)幅度與最大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。
信號(hào)泄漏 cross talk
聲或電信號(hào)穿過(guò)預(yù)設(shè)隔離層的泄漏現(xiàn)象。
阻塞 quenching
接收器在接收到發(fā)射脈沖或強(qiáng)脈沖信號(hào)后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現(xiàn)象。
增益 gain
超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對(duì)數(shù)形式。以分貝表示。
距離幅度校正distance amplitude correction，swept gain; time Variable gain;time corrected gain。
用電子學(xué)方法改變放大器，使不同深度上的相同反射體能產(chǎn)生同樣的回波幅度。同義詞：DAC校正，深度補(bǔ)償
距離幅度曲線 distance gain size curve
根據(jù)規(guī)定的條件，由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離D(A)、探傷儀的增益G(V)和反射體的大小S(G)三個(gè)參量繪制的一組曲線。實(shí)際探傷時(shí)，可由測(cè)得的缺陷距離和增益值，從此曲線上估算出缺陷的當(dāng)量尺寸。同義詞：DGS曲線 AVG曲線
面積幅度曲線area amplitude response curve
表示在垂直入射時(shí)，傳聲介質(zhì)中離探頭等距但面積不同的平面反射體回波幅度變化助曲線。
耦合 coupling
在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。
耦合劑 couplant
施加于探頭和探測(cè)面之間，以改善超聲能量傳遞的液態(tài)介質(zhì)。同義詞：耦合介質(zhì) coupling medium
噴液器 bubbler
利用噴射液流使超聲束與被檢件耦合的裝置。
施利倫系統(tǒng) Schlieren system
一種用于可視顯示超聲束在透明介質(zhì)中傳播情況的光學(xué)系統(tǒng)。
試塊test block
用于鑒定超聲檢測(cè)系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。
標(biāo)準(zhǔn)試塊standard test block
材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或權(quán)威機(jī)構(gòu)檢定的試塊。用于對(duì)超聲檢測(cè)裝置或系統(tǒng)的性能測(cè)試及靈敏度調(diào)整。同義詞：校準(zhǔn)試塊 calibration block
對(duì)比試塊 reference block
調(diào)整超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。同義詞：參考試塊
壓電效應(yīng) piezoelectric effect
某些材料，在被施加作用力時(shí)，能使其表面上產(chǎn)生電荷積累且可逆的效應(yīng)，稱為電壓效應(yīng)。
磁致伸縮效應(yīng) magnetostrictive effect
某些材料，在磁場(chǎng)中產(chǎn)生形變且可逆的效應(yīng)，稱為磁致伸縮效應(yīng)。
壓電材料 piezoelectric material
具有壓電效應(yīng)性質(zhì)的材料，如石英、鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛等。
探頭 probe; Search Unit
發(fā)射或接收(或既發(fā)射又接收)超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標(biāo)、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護(hù)膜或楔塊組成。同義詞：換能器 transducer
壓電換能器 piezoelectric transducer
以壓電效應(yīng)的形式，將電信號(hào)和機(jī)械振動(dòng)信號(hào)作可逆轉(zhuǎn)換的換能器。
電磁聲換能器 electro—magnetic acoustic transducer
由金屬表面電磁感應(yīng)產(chǎn)生的渦流和金屬內(nèi)恒定磁場(chǎng)之間相互作用而產(chǎn)生的洛侖茲力進(jìn)行電能與機(jī)械能的轉(zhuǎn)換，發(fā)射或接收超聲波的換能器。
磁致伸縮換能器 magnetostrictive transducer
以磁致伸縮效應(yīng)的形式，將電能和機(jī)械能可逆轉(zhuǎn)換的換能器。
直探頭 normal probe
進(jìn)行垂直探傷用的探頭，主要用于縱波探傷。 同義詞：直射聲束探頭 straight beam probe
斜探頭 angle probe
進(jìn)行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。同義詞：斜射聲束探頭 angle beam probe
縱波探頭 longitudinal wave probe
發(fā)射和接收縱波的探頭。
橫波探頭 Shear Wave probe
發(fā)射和接收橫波的探頭，如Y切石英探頭。
表面波探頭 surface wave probe
發(fā)射和接收表面波的探頭，用于表面波探傷。
聚焦探頭 focusing probe
能使超聲束聚焦的探頭。
可變角探頭 variable angle probe
能夠連續(xù)改變?nèi)肷浣堑奶筋^。
液浸探頭 immersion probe
用于液浸法探傷的探頭。
水柱耦合探頭 Water Column probe
進(jìn)行水柱耦合法探傷用的探頭。同義詞：局部水浸探頭
輪式探頭 wheel type probe；wheel search unit
一個(gè)或多個(gè)壓電元件裝在一個(gè)注滿液體的活動(dòng)輪胎中，超聲束通過(guò)輪胎的滾動(dòng)接觸面與探測(cè)面相耦合的一種探頭。
單晶片探頭 single crystal probe
用單個(gè)晶片制成的探頭，可兼作發(fā)射和接收。
雙晶片探頭 double crystal probe；twin probe T—R probe；S—E probe
裝有兩個(gè)晶片的探頭，一個(gè)作為發(fā)射器，另一個(gè)作為接收器。同義詞：聯(lián)合雙探頭：分割式探頭
硬膜探頭 hard—faced probe
為了減小磨損，用硬質(zhì)材料，如鋼或陶瓷制成保護(hù)膜的探頭。
軟膜探頭 soft-faced probe
采用彈性膜做保護(hù)膜，晶片與膠片之間的空隙充以液態(tài)耦合劑的探頭。
晶片 crystal
超聲探頭中的電聲轉(zhuǎn)換元件。主要采用石英，鈦酸鋇和鋯鈦酸鉛等壓電材料制成，其形狀有平面，曲面等。
晶片負(fù)載 crystal loading
由晶片向與之作聲耦合的介質(zhì)傳遞的單位面積的機(jī)械功。
機(jī)電耦合系數(shù) electro-mechanical coupling factor
壓電晶片機(jī)械能和電能之間相互轉(zhuǎn)換效率(耦合強(qiáng)弱)的參數(shù)。
壓電應(yīng)變常數(shù) piezoelectric strain constant
單位電場(chǎng)強(qiáng)度產(chǎn)生應(yīng)變的大小。
壓電電壓常數(shù) piezoelectric voltage constant
單位壓力產(chǎn)生開(kāi)路電場(chǎng)強(qiáng)度的大小。
壓電應(yīng)力常數(shù) piezoelectric stress constant
單位電場(chǎng)強(qiáng)度產(chǎn)生應(yīng)力的大小。
壓電勁度常數(shù) piezoelectric stiffness constant
單位應(yīng)變產(chǎn)生電場(chǎng)強(qiáng)度的大小。
介電常數(shù) dielectric constant
材料的介電特性。介電常數(shù)與壓電晶片附上電極后的電容有關(guān)，也就是與壓電晶片呈現(xiàn)的電氣阻抗有關(guān)。
頻率常數(shù) frequency constant
晶片共振頻率與其厚度的乘積。
品質(zhì)因數(shù) quality factor
表示因材料內(nèi)部摩擦而產(chǎn)生的機(jī)械損耗大小。品質(zhì)因數(shù)越大，機(jī)械損耗越小。
居里點(diǎn) Curie point
對(duì)壓電材料而言，是指鐵電相和順電相之間轉(zhuǎn)變的溫度。同義詞：居里溫度 Curie temperature
電位移 electric displacement
電場(chǎng)強(qiáng)度乘以介質(zhì)常數(shù)。
保護(hù)膜 diaphragm
為了保護(hù)晶片而貼在晶片前面的薄片。
斜楔 wedge
為了使超聲波傾斜入射于探測(cè)面而附加在晶片前面的楔狀物體。
聲透鏡 acoustical lens
裝配在晶片前面，使聲束聚焦的器件。
接觸塊 contact shoe；probe shoe
為了保護(hù)探頭，或?yàn)榱诉m應(yīng)特殊探測(cè)面以提高發(fā)射和接收效率而附在探頭前面的塊狀物體。
延遲塊 delay block
為使超聲脈沖持續(xù)時(shí)間等影響落在延遲過(guò)程中而附加在探頭晶片前的透聲材料，如雙晶片直探頭前的塊狀物體。
隔聲層 sound insulating layer
雙晶片探頭中用以使兩者在聲路上分割開(kāi)來(lái)的吸聲性強(qiáng)的隔片。
探頭背襯probe backing
在壓電晶片幅射有用超聲的另一面所粘接的用強(qiáng)吸聲和強(qiáng)阻尼材料制作的塊狀物體。
探頭阻尼 probe damping
用電或機(jī)械方法減小探頭相繼各周的振動(dòng)幅度，以限制探頭受脈沖激勵(lì)所產(chǎn)生的信號(hào)持續(xù)時(shí)間。
阻尼塊 damping block
與晶片或楔塊組合具有高阻尼效率的塊狀物體；
標(biāo)稱角度 nominal angle
探頭上標(biāo)志的入射角或鋼中折射角。
K值 K value
斜探頭折射角的正切值。
標(biāo)稱頻率 nominal frequency
探頭標(biāo)志頻率。
工作頻率 operating frequency
探頭發(fā)生的超聲脈沖頻譜的中心頻率。
探頭等效阻抗probe equivalent impedance
探頭有一定聲負(fù)載條件下，輸入端電阻抗的絕對(duì)值。
偏向角 angle of squint
探頭側(cè)邊與聲束軸線在探測(cè)面上投影的夾角，對(duì)于斜探頭，偏向角通常與橫向偏差有關(guān)。
屋頂角 roof angle
斜探頭中為在探測(cè)面上聲束投影和晶片法線之間的夾角，直探頭中為聲束軸線和晶片法線之間的夾角。
焦距 focal distance
聚焦探頭聲束實(shí)測(cè)焦點(diǎn)到探頭表面的距離。
焦點(diǎn)長(zhǎng)度 focus length
在焦點(diǎn)前后同焦點(diǎn)聲壓比差一定分貝數(shù)的長(zhǎng)度。
焦點(diǎn)寬度 focus width
聚焦直探頭焦點(diǎn)處的聲束寬度或聚焦斜探頭在焦點(diǎn)處沿水平方向的寬度。
會(huì)聚點(diǎn) convergence point
雙晶片探頭發(fā)射和接收聲場(chǎng)軸線的交點(diǎn)。同義詞：交叉點(diǎn)
延遲聲程delay path
晶片至探測(cè)面的聲程。
探頭入射點(diǎn) probe index
橫波探頭或表面波探頭上發(fā)射聲束軸線通過(guò)探頭底面的點(diǎn)。
前沿距離front distance
從斜探頭的入射點(diǎn)到探頭底面前端的距離。
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