直探頭缺陷定量方法主要有三種，分別是：當(dāng)量法、移動探頭測長法、底波高度法。下面就這三種直探缺陷定量方法做下詳細(xì)介紹，希望多大家了解直探頭知識有所幫助。

直探頭缺陷定量方法一、當(dāng)量法
當(dāng)缺陷尺寸小于聲束截面時，采用當(dāng)量法確定缺陷的大小，用當(dāng)量法測定的缺陷尺寸稱為缺陷的當(dāng)量尺寸。

1）當(dāng)量試塊比較法
當(dāng)量試塊比較法是指將工件中的自然缺陷反射回波與試塊上的人工缺陷反射回波進(jìn)行比較來對缺陷定量的方法。當(dāng)同聲程處的自然缺陷反射回波與某人工缺陷（如平底孔）反射回波高度相等時，該人工缺陷的尺寸就是此自然缺陷的當(dāng)量大小。利用試塊比較方法對缺陷定量時，要盡量使用試塊與被探測工件的材質(zhì)及其他探測條件一致，同時應(yīng)考慮由于表面粗糙度不同而引起的表面補(bǔ)償。

當(dāng)量試塊比較法的優(yōu)點(diǎn)是直觀、易懂，當(dāng)量概念明確，定量比較穩(wěn)妥、可靠。但這種方法需要制作大量試塊，成本高；現(xiàn)場檢測要攜帶很多試塊，很不方便。因此，當(dāng)量試塊比較法僅在x<3N的情況下或特別重要工件的精確定量時應(yīng)用。

2）當(dāng)量計(jì)算法
當(dāng)x>=3N時，規(guī)則反射體的反射回波聲壓變化規(guī)律基本符合理論反射回波聲壓公式。當(dāng)量計(jì)算法就是根據(jù)檢測中測得的缺陷波高的分貝值，利用直探頭常用幾種規(guī)則反射體的相對聲壓公式進(jìn)行計(jì)算來確定缺陷當(dāng)量尺寸的定量方法。應(yīng)用當(dāng)量計(jì)算法對缺陷定量不需要任何試塊，是目前廣泛采用的一種當(dāng)量法。

3）當(dāng)量AVG曲線法
當(dāng)量AVG曲線法是利用AVG曲線來確定工件中缺陷的當(dāng)量尺寸。

直探頭缺陷定量方法二、移動探頭測長法
當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束截面時，—般采用移動探頭測長法來確定缺陷的長度。移動探頭測長法是根據(jù)缺陷波高與探頭移動距離來確定缺陷的尺寸。按這種方法測定的缺陷長度稱為缺陷的指示長度。根據(jù)測定缺陷長度時的靈敏度基準(zhǔn)不同，將測長法分為相對是敏度法和絕對靈敏度法。 

1）相對靈敏度測長法
相對靈敏度測長法是指以缺陷最高反射回波為相對基準(zhǔn)，沿缺陷的長度方向移動探頭，降低一定的分貝值(有3，6，10，12，20 dB等多種)來測定缺陷的長度。經(jīng)常采用的是6 dB法，由于波高降低6 dB后正好為原來波高的一半，因此6 dB法又稱為半波高度法。 
6 dB法的具體操作方法是：移動探頭找到缺陷的最大反射回波后，調(diào)節(jié)【衰減器】旋鈕，使缺陷波高降至基準(zhǔn)波高(如80％)。然后用衰減器將儀器靈敏度增益6 dB，沿缺陷方向移動探頭，當(dāng)缺陷波高降至基準(zhǔn)波高時，探頭中心線之間的距離就是缺陷的指示長度。

2）絕對靈敏度測長法
絕對靈敏度測長法是指在某一規(guī)定的檢測靈敏度下，探頭沿缺陷長度方向平行移動，當(dāng)缺陷波高降到該靈敏度的位置時，探頭移動的距離就是缺陷的指示長度。絕對靈敏度測長法測得的缺陷指示長度與測長靈敏度有關(guān)，測長靈敏度越高，缺陷指示長度越大。

直探頭缺陷定量方法三、底波高度法
底波高度法是指利用缺陷波與底波的相對波高來衡量缺陷相對大小的方法。根據(jù)缺陷的情況不同，采用不同的評價方法。

 1）F／Bf法
F／Bf法是指在一定的靈敏度條件下，以缺陷波高F與缺陷處底波高Bf，之比來衡量缺陷的相對大小的方法。

2）F／BG法
是指在一定的靈敏度條件下，以缺陷波高F與無缺陷處底波高BG之比來衡量缺陷的相對大小的方法。采用上述兩種方法來評價缺陷時，底波Bf和BG是不飽和的，當(dāng)工件中存在小于聲束寬度的單個缺陷時，由于缺陷F的反射，使工件底波下降。缺陷越大，缺陷波越高，底波就越低，缺陷波高與底波高之比就越大。同樣大小的缺陷，距離不同，F(xiàn)/B不同，距離小時F/B大，距離大時F/B占小。因此F/B相同的缺陷，當(dāng)量尺寸并不一定相同。

3）BG／Bf法
當(dāng)工件中存在傾斜的面狀小缺陷或密集小缺陷時，缺陷反射同波F可能不高，但由于缺陷的遮擋，缺陷處底波Bf卻下降較多。為了評定這種類型的缺陷，需要采用另外一種方式來衡量缺陷的相對大小，即在一定的靈敏度條件下，以無缺陷處底波BG與缺陷處底波Bf之比Bf／BG來評定缺陷的相對大小。

直探頭缺陷定量方法四、多次底波反射法
當(dāng)透人工件的超聲波能量較大，而工件厚度較小時，超聲波可在探測面與底面之間往復(fù)傳播多次，示波屏上出現(xiàn)多次底波B1、B2、B3等．如果工件存在缺陷，則由于缺陷的反射及散射而增加了聲能的損耗，底面反射回波次數(shù)減少，同時也打亂了各次底面反射回波高度依次衰減的規(guī)律。

總之，底波高度法不用試塊，是一種操作簡便的方法，但是采用這種方法的條件是底面必須平行于檢測面，且不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸，是一種缺陷相對大小的評定方法。

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