對材料表面保護、裝飾形成的籠蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學天生膜等，在有關(guān)國家和國際標準中稱為覆層，覆層厚度丈量已成為加工產(chǎn)業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)；是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量尺度的必備手段。為使產(chǎn)品達到國際化標準，我國在出口商品和涉外項目中對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的丈量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差丈量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性丈量法及渦流丈量法等。這些方法中前五種是有損檢測，丈量手段繁瑣、速度慢，多適用于抽樣檢修。X射線和β射線法是無接觸無損丈量，但裝置復(fù)雜昂貴，丈量范圍較小。因有放射源，使用者必需遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適用于鍍層和基材原子序號大于3的鍍層丈量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。跟著技術(shù)的日益提高，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。丈量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%有了大幅度的進步。它適用范圍廣、量程寬、操縱簡便且價廉，是產(chǎn)業(yè)和科研應(yīng)用中最廣泛的測厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作快速而有效的進行。

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